HALT高加速寿命试验在航空电子设备上的应用

Date: October 22,2018

  HALT(Highly Accelerated Life Testing)高加速寿命试验是一种加速环境试验方法,用以评价和提升产品设计的可靠性和元器件/材料的稳健性。产品的稳健性是最终的可靠性的一个直接指标。HALT高加速寿命试验的结果数据用来确定HASS量产筛选试验的程序参数。


  产品以系统的方式暴露在一系列的特定环境条件下,用持续增加的应力并保持一定的时间段。高应力和试验时间的组合加速了硬件的老化和失效。随着试验持续,失效的证据也同时监测下来。失效发生的同时也被评估,并找到失效原因,接着实施纠正措施。然后产品再放回到HALT环境继续试验。这个步骤将重复直到产品不能再进一步的提升。


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  HALT高加速寿命试验应尽早地应用到新产品开发过程。也应该用到产品的一些大的更改中,或者一系列的小的更改累积到一定的数量时。它也可以应用于评价一些新的工艺,新的元器件、材料或者新流程。


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