什么是HALT-高度加速寿命测试？

　　高加速寿命测试（Highly Accelerated Life Testing）一词最早由Gregg K. Hobbs 于1988年提出。HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法，用于发现电子和机电组件中的设计缺陷和弱点，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。

　　HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性，从而使更可靠的产品能够快速投放市场。

　　经过特殊设计的系统可提供温度应力、快速温变循环和三轴六自由度随机振动，从而迅速暴露产品设计缺陷和质量问题。

　　应力按顺序传递：（试验步骤）

　　在施加压力的每个级别上，都要对产品样品进行功能测试以评估其操作。当发生故障时，记录故障模式和应力水平，隔离故障位置，并确定故障的根本原因。执行临时修复后，并继续HALT测试以发现其他故障。随着失效模式被发现和消除，产品极限被不断地向外推，最大限度地提高了产品的寿命和可靠性。