面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

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HALT/HASS试验系统 | 环境试验箱

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